خرید اینترنتی کتاب کرکتریزیشن آف های تی سی متریالز Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy از فروشگاه آنلاین دنیای زبان

کتاب به صورت چاپی می باشد 
( زمان آماده سازی کتاب 1 الی سه روز )

این یک گزارش واضح و به‌روز از کاربرد میکروسکوپ‌های مبتنی بر الکترون در مطالعه ابررساناهای با Tc بالا است. این مجموعه که توسط متخصصان برجسته نوشته شده است، بررسی جامعی از میکروسکوپ الکترونی روبشی، میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی به همراه جزئیات هر تکنیک و کاربردهای آن ارائه می‌کند. فصل‌های مقدماتی اصول میکروسکوپ الکترونی عبوری با وضوح بالا را پوشش می‌دهند، از جمله فصلی که به تکنیک‌های آماده‌سازی نمونه و میکروآنالیز با میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی اختصاص دارد. فصول بعدی شناسایی ترکیبات ابررسانای جدید، تصویربرداری از خواص ابررسانا با میکروسکوپ الکترونی روبشی در دمای پایین، تصویربرداری از گرداب ها با هولوگرافی الکترونی و تعیین ساختار الکترونیکی با طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون را بررسی می کنند. استفاده از میکروسکوپ تونل زنی روبشی برای کاوش مورفولوژی سطح، فرآیندهای رشد و نگاشت توزیع های حامل ابررسانا نیز مورد بحث قرار گرفته است. فصل های پایانی کاربردهای میکروسکوپ الکترونی را برای تجزیه و تحلیل مرزهای دانه، لایه های نازک و ساختار دستگاه در نظر می گیرند. مراجع تفصیلی گنجانده شده است. این کتاب دانشجویان فارغ التحصیل و محققین در زمینه فیزیک ماده متراکم و علم مواد را مورد توجه قرار خواهد داد.